Dostawa mikroskopu sił atomowych umożliwiającego pomiary automatyczne

Przedmiotem zamówienia jest zestaw mikroskopu sił atomowych (ang. atomic force microscope- AFM) umożliwiający pomiar topografii i innych właściwości podłoży oraz warstw epitaksjalnych struktur półprzewodnikowych, w szczególności wytworzonych metodą MBE na podłożach GaN, składający się z:
1) Niezależnych skanerów w osi Z oraz XY przy czym skaner osi Z jest zintegrowany w głowicy mikroskopu, a skaner XY, jest elementem stolika skanującego.
2) Zautomatyzowanego stolika umożliwiającego pomiary podłoży o średnicy 2_ , jak również pomiary mniejszych próbek.
3) Zestawu optycznego do podglądu próbki
4) Elektronicznego, cyfrowego kontrolera mikroskopu
5) Komory dźwiękochłonnej i aktywnej platformy antywibracyjnej.
6) Zestawu komputerowego
Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia znajduje się punkcie 3 SWZ

---

Haupt-CPV-Code

38514200: Rastersondenmikroskope